癲癇 ▏開啟兒童癲癇精準診斷、治療與預防的鑰匙——基因檢測

公開日: 2018-12-04

癲癇是一組複雜性神經系統疾病，發病率高，尤其以兒童期發病為主，全世界約有4000-5000 萬癲癇患者，在2 歲以下兒童中的發病率約為7/10,000。癲癇病因複雜，約有70-80% 的兒童癲癇與遺傳因素有關。隨著近年來基因測序技術的快速發展，大量癲癇致病基因被發現，這些基因的發現為兒童癲癇的精準診斷、治療及預防提供了依據，基因檢測已逐漸成為兒童癲癇臨床診斷的常規手段之一。

目前兒童癲癇臨床基因檢測主要以基因晶元和基因測序技術為主，其次還包括染色體核型分析、FISH及MLPA 技術等。基因晶元可分為比較基因組雜交晶元和SNP 晶元兩種類型，其檢測目標均為罕見染色體區域的缺失/ 重複( 拷貝數變異，CNV)，尤其是除癲癇癥狀之外，還存在外貌畸形、發育遲緩和其它神經系統嚴重異常的患兒，應作為首選。基因測序技術主要包括一代測序（針對單個基因區域）和二代測序（同時針對多個基因，甚至全部基因編碼區或整個人類基因組）。前者已逐漸被後者所替代。二代測序也稱之為高通量測序，目前在癲癇臨床診斷中的應用要以基因Panel 和全外顯子（約2 萬個基因，目標區域佔人類全基因組的1-2%）測序（WES）為主，檢測目標為基因的蛋白質編碼區點突變和微小的插入/缺失。全外顯子與基因Panel 相比，其優勢在於檢測範圍更大、更全面，而且可以發現新的癲癇致病基因，其缺點在於檢測費用相對較高，檢測周期相對較長。

兒童癲癇臨床基因檢測的陽性率目前約為35-55%，其中基因晶元約為5-10%，二代測序約為30-45%，約有一半左右的兒童癲癇仍找不到明確的病因。隨著二代測序檢測成本的不斷降低、數據分析技術和知識庫的不斷完善，全基因組測序（WGS）將會替代基因晶元和全外顯子測序，成為癲癇臨床基因檢測的主流方法, 全基因組測序不但能同時檢測CNV、點突變和小的插入/ 缺失，而且能檢測到基因組非編碼區的致病變異。